1. Materials e Metodi
I composizioni esatta chimiche (in massa%) di leghe Hastelloy-X con 0 e 0,12 ittrio sono chiamati HX e HX-a, rispettivamente, e sono riportatinella Tabella 1. Queste due esemplari sono stati costruitinella forma di un cubo di 45 mm × 45 × 45 utilizzando la macchina EOS M290 SLM (EOS, Robert-Stirling-Ring 1, 82152, Krailling, Baviera, Germania) in una Atmosfera protettiva AR utilizzando polveri pre-allali e gli stessi parametri di elaborazione. Abbiamo condotto il trattamento termico di serie sia per l'HX e HX-a esemplari. La soluzione Il trattamento termico (ST) è stato eseguito a 1177 ◦C per 2 h, seguito da raffreddamento ad aria a temperatura ambiente
discharge tagliatrice elettro filo. Le dimensioni del calibro di ogni campione sono stati 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Abbiamo condotto la prova di scorrimento in 900 condizioni ◦C80 MPa. I campioni sono stati lucidati con carta abrasiva SiC fino al grado 1200-seguiti da pasta diamantata fino a silice colloidale (0,5 micron) utilizzando uno Struers (Ballerup, Danimarca) macchina automatica lucidatura. Tutti i campioni sono stati quindi lavati con etanolo in un bagno ad ultrasuoni per 10 min. Abbiamo ETCHED i campioni con soluzione acquosa 80% 20% di acido fosforico/osservare i confini bagno fuso. L'osservazione microstrutturale è stata condotta utilizzando un microscopio ottico (OM; Olympus Corp. Tokyo, Giappone), un microscopio elettronico a scansione (SEM; Hitachi, Ltd., Tokyo, Giappone), energia \\ spettroscopiandispersive (EDS) (tipo EDS S#3700N microscopia attrezzature prodotto da Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Giappone), ed emissione di campo di elettroni (FE+SEM) (JSM-7100, JEOL, Tokyo, Giappone) collegato a un EDS (EDAXAMETEX 9424). Software Immagine J (64-Bit Java 1.8.0_172) è stato utilizzato per analizzare le misurazioni della frazione di crack e porosità.---
3.
results 3.1.
Microstructure osservazione 3.1.1.
\ASnBuilt campioni -figure 1 illustra la HX e HX \\ microstrutture otticina campioninel come \\ condizione dinbuilt. Tutti sono stati fabbricati utilizzando gli stessi parametri di elaborazione. HXa esemplare esposto più fessure di HX (Figura 1a) perché il HX
a provetta contenuta ittrio aggiuntivo (Y) elementi che provino HX mancavano di lega. Il punto importante è che tutte le fessure fossero parallele alla direzione di edificio (BD) (Figura 1b). Le frazioni crack per la HX e HXa campioni sono 1% e 5%, rispettivamente.-----
F 
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we eseguita EDS scansioni mappatura le crepe del HX e HXa esemplari. analisi EDS rivelato carburi SiC e formazione W6Cnel campione HX (Figura 3a). Nella HX a provino, EDS mappatura alla fessura ha mostrato la formazione di YC (figura 3b)
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figure 4 mostra Eds mappatura dell'HXA come esemplare built, che indica l'esistenza di particelle di ossido di piccolo y ossido (yTtria) e silice (silice) all'interno del grano. La diffrazione da retrodiffusione elettronica (EBSD) orientamento cristallografico Mappe di due provette in quanto
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